恒溫恒濕試驗箱標準介紹
性能指標符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設(shè)備》的要求
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗C:恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-93(IEC68-2-3)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗D:交變濕熱試驗方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30)
恒溫恒濕試驗箱標準介紹
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法
GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法
GJB150.9-1986《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法:濕熱試驗》
GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗恒定濕熱試驗》
GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗交變濕熱試驗》
GJB367.2-1987《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗方法》411 濕熱試驗
GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗
GB/T5170.5-96《濕熱試驗設(shè)備》
GB/T5170.2-96《溫度試驗設(shè)備》
GB10592-93《高、低溫試驗箱技術(shù)條件》
GB10586-93《濕熱試驗箱技術(shù)條件》
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